QuickPRO-CUBE™非接觸式三維形貌儀采用彩色共聚焦納米級測量技術，全程非接觸無損檢測，可避免傳統接觸式測量對精密光學表面造成的劃傷風險，適配高價值光學元件的高精度表征需求。設備搭載Invar 穩計量框架，具備優異的抗震動性與尺寸穩定性，可在普通工業環境穩定實現納米級測量，無需嚴苛恒溫實驗室，大幅降低使用門檻與場地要求。

雙傳感器同步采集前表面、后表面與基準面三維點云，無需翻轉樣品即可完成雙面全參數檢測，配合高速光柵 / 螺旋掃描，單鏡頭測量僅需 30–240 秒，兼顧測量精度與檢測效率。設備可精準輸出頂點偏移、楔角、中心厚度、總厚度變化（TTV）、面形誤差等核心幾何參數，全面滿足球面 / 非球面 / 自由曲面鏡片、微透鏡陣列、光通信元件、半導體光學組件的研發與質控需求。

搭配 QuickPRO™儀器控制軟件與 CalcuSurf-3D™數據分析軟件，可實現自動定心、一鍵測量、三維數據可視化、檢測報表導出，操作簡潔高效。廣泛應用于精密光學制造、光通信、半導體、醫療光學、航空航天光學及高校科研院所，為光學元件的制程優化、品質管控、良率提升提供核心數據支撐，是光學領域三維形貌與幾何精度檢測的設備。